Microscopyにのった最新のIn-resin CLEM(高精度光線-電子相関顕微鏡法）についての総説です。

Recent advances in in-resin correlative light and electron microscopy of Epon-embedded cells

樹脂に包埋した生物試料の同一の超薄切片を用いて、蛍光顕微鏡像と電子顕微鏡像を得ることにより、位置精度を高めたIn-resin CLEMについて最近の研究について、Microscopyに総説を書きました。

https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/37217182/

doi: 10.1093/jmicro/dfad028